SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法 X射线荧光光谱法
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时间:2024-05-06 00:10:54
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基本信息
标准名称: | 银和银合金镀覆层厚度测量方法 X射线荧光光谱法 |
英文名称: | Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness-Method by the X-ray fluorescent spectromentry |
中标分类: | 医药、卫生、劳动保护 >> 医药、卫生、劳动保护综合 >> 技术管理 |
发布部门: | 中国电子工业总公司 |
发布日期: | 1992-11-19 |
实施日期: | 1993-05-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
提出单位: | 中国电子工业总公司科技质量局 |
归口单位: | 中国电子技术标准化研究所 |
起草单位: | 中国华晶电子集团公司等单位 |
起草人: | 全庆霄、赵长春、顺兴生等 |
出版社: | 电子工业出版社 |
出版日期: | 1993-04-01 |
页数: | 9页 |
适用范围
本标准规定了用x射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是’一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量,也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。
前言
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引用标准
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所属分类: 医药 卫生 劳动保护 医药 卫生 劳动保护综合 技术管理
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